–
9031 90 20
9031 80 32 a 9031 80 34-Na měření nebo kontrolu geometrických veličin
Příklady geometrických veličin jsou: délka, vzdálenost, průměr, poloměr, zakřivení, úhel, sklon, obsah a nerovnost povrchu.
Do těchto podpoložek nepatří interferometry pro kontrolu rovnosti povrchu, používané v laboratořích (podpo- ložka 9027 50 00).
–
9031 80 32
9031 80 32 a 9031 80 34-Na měření nebo kontrolu geometrických veličin
Příklady geometrických veličin jsou: délka, vzdálenost, průměr, poloměr, zakřivení, úhel, sklon, obsah a nerovnost povrchu.
Do těchto podpoložek nepatří interferometry pro kontrolu rovnosti povrchu, používané v laboratořích (podpo- ložka 9027 50 00).
–
9031 80 34 50
9030 82 00-Na měření nebo kontrolu polovodičových destiček nebo polovodičových zařízení
Do této podpoložky patří elektrická testovací zařízení nebo systémy, které měří nebo kontrolují elektrické veličiny, jako je napětí, frekvence atd., aby se stanovila provozuschopnost destiček, čipů a jiných polovodičových součástek a zobrazují jakékoliv vady, jako jsou odchylky od předem nastavených hodnot.
Tato zařízení nebo systémy obvykle obsahují měřící a kontrolní jednotku (se vstupní klávesnicí, programovou pamětí a obrazovkovým (CRT) terminálem), která provádí měření a porovnává výsledky s referenčními hodnotami a zobrazuje je, řídící jednotku (se zařízením pro automatizované zpracování dat nebo mikroprocesory), výstupní tiskárnu pro vytištění výsledků testu a zařízení pro třídění testovaných komponentů podle specifických aktuálních hodnot a vyřazení vadných kusů.
Do této podpoložky však nepatří elektrická zařízení pro kontrolu, jestli jsou sestavy integrovaných obvodů nebo jiných elektronických komponentů hermeticky uzavřeny (číslo 9031).
–
9030 82